“Parâmetros De Estabilidade De Dose Acumulada Em Diodos De silício Tipo P E Tipo N”. Brazilian Journal of Radiation Sciences 12, no. 4A (Suppl.) (fevereiro 12, 2025): e2601. Acesso em julho 17, 2025. https://bjrs.org.br/revista/index.php/REVISTA/article/view/2601.