SANTOS, L. R.; VIVOLO, V.; NAVARRO, M. V. T.; XAVIER, M.; POTIENS, M. da P. A. Filtration influence in a constant potential X-ray machine peak voltage measurements. Brazilian Journal of Radiation Sciences, [S. l.], v. 5, n. 2, 2017. DOI: 10.15392/bjrs.v5i2.261. Disponível em: https://bjrs.org.br/revista_33014/index.php/REVISTA/article/view/261. Acesso em: 26 dec. 2024.