OLIVEIRA, E. M.; IWAHARA, A.; POLEDNA, R.; DA SILVA, C. J.; DA CRUZ, P. A. L.; GOMES, R. dos S.; DELGADO, J. U.; LOPES, R. T. Sum-peak method with two NaI(Tl) crystals: 68(Ge+Ga) standardization. Brazilian Journal of Radiation Sciences, [S. l.], v. 7, n. 3B (Suppl.), 2019. DOI: 10.15392/bjrs.v7i3B.862. Disponível em: https://bjrs.org.br/revista_33014/index.php/REVISTA/article/view/862. Acesso em: 26 dec. 2024.