Digital processing of images with defects due to double beam attenuation in indirect X-ray fluorescence mapping

Autores

  • Luisa Dutra Silva Instituto Federal do Rio de Janeiro (IFRJ)
  • Lucas da Costa Souza Universidade do Estado do Rio de Janeiro (UERJ)
  • Davi Ferreira Oliveira Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)
  • Marcelino José Anjos Universidade do Estado do Rio de Janeiro (UERJ)
  • Elicardo Alves de Souza Gonçalves Instituto Federal do Rio de Janeiro https://orcid.org/0000-0003-2612-2690 (não autenticado)

DOI:

https://doi.org/10.15392/bjrs.v9i2C.1678

Palavras-chave:

Digital image processing, genetic algorithm, X-ray transmission

Resumo

This work is based on the adaptation of a commercial X-ray fluorescence mapping equipment to map the transmission of characteristic X-ray beams through a sample. This adaptation was made without physical adjustments to the equipment, working only on the measurement and data processing parameters. The arrangement of the equipment's components causes not only the primary beam to pass through the sample, but also the resulting characteristic X-rays, causing a double attenuation and a defect in the final image known as ghosting. In this approach, a rudimentary genetic algorithm was developed using artificial images with simulated defects. This algorithm showed the characteristics of the convolution matrix K needed to solve the problem. The results show the real possibility of using the equipment for this adapted measurement and a methodology that can be expanded to different situations.

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Publicado

08-08-2021

Edição

v. 9 n. 2C (Suppl.) (2021)

Seção

Congresso Brasileiro de Metrologia das Radiações Ionizantes - CBMRI 2020

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Como Citar

Digital processing of images with defects due to double beam attenuation in indirect X-ray fluorescence mapping. Brazilian Journal of Radiation Sciences, Rio de Janeiro, Brazil, v. 9, n. 2C (Suppl.), 2021. DOI: 10.15392/bjrs.v9i2C.1678. Disponível em: https://bjrs.org.br/revista/index.php/REVISTA/article/view/1678. Acesso em: 17 jul. 2025.