Measurement of the insensitive surface layer thickness of a PIN photodiode based on alpha-particle spectrometry
DOI:
https://doi.org/10.15392/2319-0612.2022.1789Palabras clave:
alpha spectrometry, Si diode, PIN photodiodeResumen
In this work, the insensitive layer thickness of a PIN photodiode (SFH206K - Osram) has been measured by varying the incident angle of a collimated monoenergetic alpha particle beam. This technique is based on the fact that, except for the intrinsic uncertainties of the emission and straggling of alpha particles, their trajectories at different incident angles are distinct, with smaller ones corresponding to the incidence perpendicular to the detector surface. The result obtained (711 ± 23) nm, less than 1% of the intrinsic layer thickness, besides validating the employed method, demonstrates that the diode herein investigated is suitable for high resolution charged particle spectrometry.
Descargas
Referencias
GOODA, P. H., GILBOY, W. B. High resolution alpha spectroscopy with low cost photodiodes. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. v. 255, p. 222–224, 1987.
BUENO, C. C., GONCALVES, J. A. C., SANTOS, M. D. DE S. The performance of low-cost commercial photodiodes for charged particle and X-ray spectrometry. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. v. 371, p. 460–464, 1996.
KHOURY, H. J., SCHELIN, H., SOBOLL, D., LUNELLI, N., BAPTISTA, C. Evaluation of comercial silicon diode for electron dosimetry. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. v. 580, p. 537–539, 2007.
GONCALVES, J. A. C., MANGIAROTTI, A., BUENO, C. C. Current response stability of a commercial PIN photodiode for low dose radiation processing applications. Radiat. Phys. Chem. v. 167, p. 108276, 2020.
MALAFRONTE, A. A., PETRI, A. R., GONÇALVES, J. A. C., BARROS, S. F., BUENO, C. C., MAIDANA, N. L., MANGIAROTTI, A., MARTINS, M. N., QUIVY, A. A., VANIN, V. R. A low-cost small-size commercial PIN photodiode: I. electrical characterisation and low-energy photon spectrometry. Radiat. Phys. Chem. v. 179 p. 109103-109113, 2021.
Descargas
Publicado
Número
Sección
Licencia
Derechos de autor 2022 Brazilian Journal of Radiation Sciences (BJRS)
Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución 4.0.
Licencia: los artículos de BJRS tienen una licencia internacional Creative Commons Attribution 4.0, que permite el uso, el intercambio, la adaptación, la distribución y la reproducción en cualquier medio o formato, siempre que se otorgue el crédito correspondiente al autor o autores originales y a la fuente, proporcione un enlace a la licencia Creative Commons e indique si se realizaron cambios. Las imágenes u otros materiales de terceros en el artículo están incluidos en la licencia Creative Commons del artículo, a menos que se indique lo contrario en una línea de crédito al material. Si el material no está incluido en la licencia Creative Commons del artículo y su uso previsto no está permitido por la regulación legal o excede el uso permitido, el autor deberá obtener el permiso directamente del titular de los derechos de autor. Para ver una copia de esta licencia, visite http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
