Filtration influence in a constant potential X-ray machine peak voltage measurements

Autores

  • Lucas Rodrigues Santos Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares, Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia de São Paulo , Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia de São Paulo
  • Vitor Vivolo Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - CNEN /SP
  • Marcus Vinícius Teixeira Navarro Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia do estado da Bahia.
  • Marcos Xavier Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - CNEN /SP
  • Maria da Penha Albuquerque Potiens Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - CNEN /SP

DOI:

https://doi.org/10.15392/bjrs.v5i2.261

Palavras-chave:

peak voltage, practical peak voltage, spectrometry, endpoint, non invasive

Resumo

This work shows the peak voltage measurements for several beam filtrations used in diagnostic radiology, using two types of non-invasive detectors; a voltage meter and a high-resolution spectrometer. The technique chosen for the voltage peak measurements with the spectrometer was the endpoint. The results were compared to the measured ones and showed good similarity to the nominal values. However the voltage meter detector used in this work presented errors for heavier filtrations.

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Biografia do Autor

  • Vitor Vivolo, Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - CNEN /SP
    Centro de metrologia das radiações
  • Marcus Vinícius Teixeira Navarro, Instituto Federal de Educação, Ciência e Tecnologia do estado da Bahia.
    Laboratório Pro-Saúde
  • Marcos Xavier, Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - CNEN /SP
    Centro de Metrologia das Radiações
  • Maria da Penha Albuquerque Potiens, Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - CNEN /SP
    Centro de Metrologia das Radiações.

Referências

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Publicado

19-07-2017

Edição

v. 5 n. 2 (2017)

Seção

Artigos

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Como Citar

Filtration influence in a constant potential X-ray machine peak voltage measurements. Brazilian Journal of Radiation Sciences, Rio de Janeiro, Brazil, v. 5, n. 2, 2017. DOI: 10.15392/bjrs.v5i2.261. Disponível em: https://bjrs.org.br/revista/index.php/REVISTA/article/view/261. Acesso em: 17 jul. 2025.