X-ray diffraction analysis of KY3F10 nanoparticles doped with Nd and preliminary studies for its use in high-dose radiation dosimetry
DOI:
https://doi.org/10.15392/bjrs.v7i2A.586Palavras-chave:
X-ray diffraction, thermoluminescence, KY3F10, nanoparticlesResumo
In this work, the structure and microstructure of Nd:KY3F10 nanoparticles was probed using X-ray synchrotron diffraction analysis. Rietveld refinement was applied to obtain cell parameters, atomic positions and atomic displacement factors to be compared with the ones found in literature. X-ray line profile methods were applied to determine mean crystallite size and crystallite size distribution. Thermoluminescent (TL) emission curves were measured for different radiation doses, from 0.10 kGy up to 10.0 kGy. Dose-response curves were obtained by area integration beneath the peaks from TL. The reproducibility of the results in this work has shown that this material can be considered a good dosimetric material.
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CHAMBERLAIN, S. L.; CORRUCCINI, L. R. Magnetic ordering in rare-earth fluorides with KY3F10 structure and axial moments. Phys Rev B, v. 71, p. 024434-1-7, 2005.
GOMES, L.; LINHARES, H. M. S. M. D.; ICHIKAWA, R. U.; MARTINEZ, L. G.; RANIE-RI, I. M. Luminescence properties of Yb:Nd:Tm:KY3F10 nanophosphor and thermal treatment ef-fects. J Lumin, v. 157, p.285–292, 2015.
GOMES, L.; LINHARES, H. M. S. M. D.; ICHIKAWA, R. U.; MARTINEZ, L. G.; BALDOCHI, S. L. Luminescence properties of Yb:Er:KY3F10 nanophosphor and thermal treatment effects. Opt Mater, v. 54, p. 57-66, 2016.
KUI, H. W.; LOA, D.; TSANG, Y. C.; KHAIDUKOV, N. M.; MAKHOV, V. N. Thermolu-minescence properties of double potassium yttrium fluorides singly doped with Ce3+, Tb3+, Dy3+ and Tm3+ in response to α and β irradiation. J Lumin, v. 117, p. 29-38, 2006.
KRISTIANPOLLERA, N.; WEISSA, D.; KHAIDUKOVB, N.; MAKHOVC, V.; CHENA, R. Thermoluminescence of some Pr3+ doped fluoride crystals. Radiat Meas, v. 43, p. 245-248, 2008.
NAVARRO, M. S.; LIMA, J. F.; VALERIO, M. E. G. Effects of thermal treatments on the TL emission of natural quartz, Radiat Meas, v. 35, p. 155-159, 2002.
TEIXEIRA, M. I.; SOUZA, D. N.; CALDAS, L. V. E. Onyx as radiation detector for high doses. Radiat Meas, v. 46, p. 1894-1896, 2011.
LINHARES, H. M. S. M. D. Síntese de nanocristais de KY3F10 pelo método de co-precipitação visando aplicações ópticas. Tese de Doutorado em Tecnologia Nuclear – Materiais. Instituto de Pes-quisas Energéticas e Nucleares, Universidade de São Paulo, São Paulo (2014).
WARREN, B. E.; AVERBACH, B. L. The Effect of Cold‐Work Distortion on X‐Ray Pat-terns. J Appl Phys, v. 21, p. 595-599, 1950.
GROPPO, D. P.; CALDAS, L. V. E. OSL response bleaching of BeO samples, using fluores-cent light and blue LEDs. J Phys Conf Ser, v. 733, p. 012085-1-5, 2016.
VON DREELE, R. B. Rietveld Refinement. In: Powder Diffraction Theory and Practice. Eds. DINNEBIER, R. E.; BILLINGE, S. L. Cambridge, UK, RSC Publishing. p. 58-88, 2008.
Bruker AXS, Topas v4.2, User’s manual (2009).
BALZAR, D.; AUDEBRAND, N.; DAYMOND, M.; FITCH, A.; HEWAT, A.; LANG-FORD, J. I.; LE BAIL, A.; LOUËR, D.; MASSON, O.; MCCOWAN, C. N.; POPA, N.C.; STE-PHENS, P.W.; TOBY, B. Size-Strain Line-Broadening Analysis of the Ceria Round-Robin Sample. J Appl Cryst, v. 37, p. 911-924, 2004.
BALZAR, D. Voigt-function model in diffraction line-broadening analysis. In: Microstructure Analysis from Diffraction, International Union of Crystallography, 1999.
ICHIKAWA, R. U. Aplicações do método de Warren-Averbach de análise de perfis de difra-ção. Dissertação de Mestrado em Tecnologia Nuclear – Materiais. Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares, Universidade de São Paulo, São Paulo (2013).
GRZECHNIK, A.; NUSS, J.; FRIESE, K.; GESLAND, J.-Y.; JANSEN, M. Refinement of the crystal structure of potassium triyttrium decafluoride, KY3F10. Ζ Kristallogr NCS, v. 217, p. 460, 2002.
ICHIKAWA, R. U.; MARTINEZ, L. G.; IMAKUMA, K. TURRILLAS, X. Development of a methodology for the application of the Warren-Averbach method. p. 107-110. In: Anais do V En-contro Científico de Física Aplicada. Blucher Physics Proceedings, n.1, v. 1. São Paulo: Blucher (2014).
TEIXEIRA, M. I.; CALDAS, L. V. E. The influence of high doses of radiation in citrine stones. In: International Symposium on Solid State Dosimetry, Cusco-Peru, April 13 to 16th, pp. 391-399 (2014).
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