Assessment of trace elements concentration in cosmetic foundation using X-ray fluorescence technique
DOI:
https://doi.org/10.15392/2319-0612.2024.2742Palavras-chave:
base facial, elementos traço, metais pesados, fluorescência de raios XResumo
As bases faciais desempenham um papel significativo na rotina de beleza. Contudo, a presença de metais pesados e elementos tóxicos em cosméticos é uma preocupação, devido aos potenciais riscos à saúde. Este estudo investigou a composição química de 52 amostras de bases faciais adquiridas em Curitiba e São Paulo, Brasil, utilizando a técnica de fluorescência de raios X para identificação dos elementos. A quantificação foi realizada pelos métodos de adição de padrão e curvas de calibração. Os resultados indicaram a presença de elementos como Cu, Zn, Br, Zr e Ba em concentrações acima dos limites estabelecidos pela Agência Nacional de Vigilância Sanitária (ANVISA). O Cd e o Ni, elementos cuja composição é proibida na formulação de cosméticos, apresentaram concentração máxima de 277 ± 51 µg/g e 130 ± 10 µg/g, respectivamente. A maior concentração determinada para o Zr atingiu 589 ± 57 µg/g, aproximadamente seis vezes acima do limite estabelecido. Em contrapartida, as concentrações de Ba ultrapassaram 14 mil µg/g, aproximadamente 60 vezes acima do limite, com a maior concentração atingindo 30.867 ± 1.500 µg/g. Estes resultados ressaltam a necessidade de monitoramento dos produtos cosméticos no Brasil e apontam discordâncias entre os cosméticos comercializados no país e as resoluções proposta pela ANVISA, além de contribuir para a ampliação do conhecimento acerca da presença de elementos potencialmente nocivos à saúde em bases faciais.
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